履层测厚仪（外文名：Track thickness gauge）是德国EPK公司于2002年推出的一种超小型测量仪，用于测量非磁性金属基体上非导电覆层厚度。该仪器广泛应用于制造业、金属加工业、商检等领域 。
它采用测头与仪器一体化的小型化设计，支持磁感应和涡流两种测量原理 。仪器具有单次和连续测量模式，可提供平均值、最大值、最小值等统计量计算功能。其配备LCD背光显示屏，使用AA电池供电，并内置自动关机与蜂鸣提示模块 。
想要了解更多“履层测厚仪”的信息，请点击：履层测厚仪百科
履层测厚仪（外文名：Track thickness gauge）是德国EPK公司于2002年推出的一种超小型测量仪，用于测量非磁性金属基体上非导电覆层厚度。该仪器广泛应用于制造业、金属加工业、商检等领域 。
它采用测头与仪器一体化的小型化设计，支持磁感应和涡流两种测量原理 。仪器具有单次和连续测量模式，可提供平均值、最大值、最小值等统计量计算功能。其配备LCD背光显示屏，使用AA电池供电，并内置自动关机与蜂鸣提示模块 。
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